产品概述

　　闪存芯片智能测试系统 HD-N8-NAND 是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达 8 颗。

　　闪存芯片智能测试系统 HD-N8-NAND 支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。

　　产品规范

　　※ 测试依据符合JEDEC Stand No.218: 固态技术协会 B-2016 Solid-State Drive(SSD) Requirements And Endurance Test Motho;

　　※ 测试依据符合JEDEC Standard No.47 NVCE:固态技术协会Stress-Test- Driven Qualification of Integrated Circuits;

　　※ 测试板设计规格符合工业级测试温度环境要求;